Načelo
Osnova kristalografije: Tehnika povratne difrakcije elektronov (EBSD) temelji na principu Braggovega uklona kristalnih ravnin. Atomi v kristalu so pravilno razporejeni. Ko elektronski žarek obseva kristalno površino, se pojavi uklonski pojav, ko je izpolnjen Braggov zakon (kjer je medravninski razmik, je uklonski kot, je uklonski vrstni red in je valovna dolžina elektronskega žarka). Pri polikristalnih materialih, kot je jeklo, imajo različna zrna različno kristalografsko usmerjenost.
Orientacijsko slikanje: Sistem EBSD lahko določi kristalografsko orientacijo vsakega zrna tako, da sprejme te uklonjene elektrone. V vrstičnem elektronskem mikroskopu (SEM) elektronski žarek skenira točko za točko na površini vzorca in pridobi uklonske vzorce na vsaki točki skeniranja. Ti uklonski vzorci vsebujejo informacije o orientaciji zrn in jih lahko programska oprema obdela za prikaz orientacije zrn v obliki slike, ki se imenuje Orientation Imaging Map (OIM).
Osnova za merjenje velikosti zrn: Na podlagi zemljevida orientacijskega slikanja je mogoče določiti meje zrn z razlikovanjem zrn z različnimi orientacijami. Ker je orientacija znotraj vsakega zrna v bistvu enaka in obstaja razlika v orientaciji med sosednjimi zrni, je mogoče meje zrn prepoznati z nastavitvijo ustreznega praga razlike v orientaciji. Ko so meje zrn določene, je mogoče izračunati velikost zrn. Na primer, geometrične parametre, kot je enakovredni krožni premer zrna, je mogoče izmeriti za karakterizacijo velikosti zrna.

 

 

Nastavitev parametrov instrumenta
Nastavitev pospeševalne napetosti: V vrstičnem elektronskem mikroskopu je ustrezna pospeševalna napetost nastavljena glede na lastnosti in zahteve za analizo vzorca jekla. Na splošno lahko za jeklo pospeševalno napetost nastavite med 15 - 30kV. Ustrezna pospeševalna napetost lahko zagotovi, da ima elektronski žarek dovolj energije, da prodre skozi površino vzorca in ustvari jasne uklonske vzorce.
Prilagoditev delovne razdalje: Delovna razdalja se nanaša na razdaljo od elektronske pištole do površine vzorca in je običajno nastavljena med 10 - 20 mm. Ustrezna delovna razdalja lahko omogoči dobro fokusiranje elektronskega žarka in omogoča sprejem dobrih uklonskih signalov.
Izbira koraka skeniranja: korak skeniranja je razdalja med dvema sosednjima točkama skeniranja, ko elektronski žarek skenira površino vzorca. Pri jeklenih vzorcih z večjo velikostjo zrn lahko korak skeniranja nastavite nekoliko večji, na primer {{0}}μm; za vzorce z manjšo velikostjo zrn mora biti korak skeniranja nastavljen manjši, na primer 0.1 - 1μm, da se zagotovi natančna identifikacija vsakega zrna.
Pridobivanje podatkov
Namestitev vzorca: Pripravljen vzorec se namesti na mizico za vzorec vrstičnega elektronskega mikroskopa, s čimer se zagotovi, da je vzorec trdno pritrjen in ima dobro električno prevodnost.
Začetek skeniranja: program za skeniranje se zažene in elektronski žarek skenira točko za točko na površini vzorca v skladu z nastavljenim korakom skeniranja. Na vsaki točki skeniranja detektor EBSD sprejme uklonjene elektrone, jih pretvori v električne signale ter jih nato ojača in digitalizira, da posname podatke o uklonskem vzorcu vsake točke skeniranja.

 

 

 

 

 

Specifikacija, ki jo dobavljamo:

Debelina	3-200 mm
širina	1500-4000 mm
Dolžina	5000-15000 mm

 

 

 

Obdelava in analiza podatkov
Indeksiranje vzorcev: Zbrane podatke o uklonskih vzorcih je treba najprej indeksirati po vzorcih, to je s primerjavo s standardnimi uklonskimi vzorci v znani kristalografski bazi podatkov, da se določi kristalografska orientacija, ki ustreza vsaki točki skeniranja. Ta postopek se zaključi z namensko programsko opremo za analizo EBSD. Programska oprema se bo ujemala z najverjetnejšo kristalografsko orientacijo glede na položaj in intenzivnost uklonskih točk.
Rekonstrukcija zrna: na podlagi informacij o orientaciji točk skeniranja in nastavljenega praga razlike v orientaciji (običajno je za jeklo prag razlike v orientaciji nastavljen med 10 - 15 stopinjami) se programska oprema uporablja za identifikacijo meja zrn in razdelitev točke skeniranja z enako ali podobno orientacijo v eno zrno in tako rekonstruirajo obliko zrna.
Izračun velikosti zrn: Ko so zrna rekonstruirana, je mogoče uporabiti orodja v programski opremi za izračun velikosti zrn. Izračunati je mogoče na primer parametre, kot sta površina in obseg vsakega zrna, nato pa je mogoče izračunati enakovredni krožni premer in druge indikatorje, ki označujejo velikost zrna. Hkrati se lahko izvede tudi statistična analiza velikosti zrn, kot je izračun povprečne velikosti zrn in porazdelitve velikosti zrn.

 

 

 

 

 

 

Ponosni smo na našo sposobnost zagotavljanja rešitev po meri za edinstvene potrebe naših strank.
Analiziramo in primerjamo prejšnje izdelke in trenutno tehnično stanje naše jeklene plošče BV EH36 ter razvijamo nove tehnične specifikacije in procese.
Naše stranke nam zaupajo, da bomo visokokakovostne izdelke iz hladno valjanega jekla dobavili pravočasno in v okviru proračuna.
Strogo izvajamo toplo in premišljeno poprodajno storitev, se držimo razvoja dobre poklicne etike.
Ponujamo široko paleto izdelkov iz hladno valjanega jekla, da zadovoljimo raznolike potrebe strank.
Držimo se poslovne filozofije, osredotočene na stranko in blagovne znamke, ter strankam še naprej zagotavljamo zanesljive in odlične izdelke in storitve.
Naša tovarna je zavezana spoštovanju najvišjih standardov varnosti in kakovosti.
Vse osebje našega podjetja in vsi oddelki sodelujejo pri združevanju poslovnega vodenja, profesionalne tehnologije, kvantitativnih statističnih metod in ideološkega izobraževanja.
Naši izdelki iz hladno valjanega jekla so znani po svoji vzdržljivosti in zanesljivosti.
Zanašajoč se na vrhunske pogoje in velike prednosti množične proizvodnje, smo sposobni zadovoljiti različne potrebe naših strank.

Priljubljena oznake: bv eh36 jeklena plošča, Kitajska bv eh36 jeklena plošča dobavitelji, tovarna